PLIST基本缺陷列表與GLIST 成長缺陷列表

在上一節，我們分析了物理壞道與邏輯壞道的原理同成因，同時也提到了一個很重要的一個點，——PLIST基本缺陷列表與GLIST 成長缺陷列表

為什么對于硬盤來講，這兩個表這么重要呢？因為壞道的多少，是會影響讀盤的速度的。而且壞道還會對周邊的磁道蔓延，所以要把這一部分的壞道進行屏蔽處理，就要用到G轉P的操作。

PLIST基本缺陷列表Primary Defect List

在每只硬盤在生產的時候，其實不可避免會產生有部分碟片磁介質不均勻，或者有損壞的地區，對于這部分在生產過程中產生的不穩定的扇區，工廠就會使用一個PLIST 來記錄下來。

硬盤廠家做低格時候做的一個列表。我們也叫做“永久缺陷表”，這些記錄地址在硬盤運行時候自動被跳過，所以P列表不影響硬盤的存取速度。

GLIST 成長缺陷列表GrownDefect List

G列表是在硬盤使用中出現的列表，我們也叫做“增長”缺陷表，這些記錄地址隨著用戶使用硬盤，硬盤檢測到某些區域可能存在缺陷（壞扇區），自動重新映射到出廠時預留的空間

用來保護用戶數據的訪問安全。由于G列表帶來的是重映射，而非跳過，也就意味著硬盤首先尋找到壞的區域然后再映射到安全區域，這樣就會造成硬盤存取速度的減慢.

看到這兒估計大家對GLIST 與 PLIST 只會有種快同慢的對比感覺。那么是什么原因造成的呢？為什么PLIST 不影響硬盤存取速度，而GlIST卻會影響到呢？

那么我們先由一個硬盤的扇區分配說起。

在硬盤里面，除了我們平時見到的用戶儲存數據工作區，其實還含著另外兩個區——固件區與保留區。

但在實際中，固件區與保留區，用戶是沒有辦法操作的，硬盤的實際扇區數比我們在標簽上見到的容量是要大的，（其實工廠在生產時，并不會只單獨開生產線1T或者 2T的硬盤，他們會批量生產好同一款的硬盤，通過設定好固件信息，去為硬盤定義好容量。）在固件里，工廠會定義好硬盤的容量，超過了容量的那些扇區，我們會稱他們為保留區。

如圖（1）所示，藍色為固件區，白色為工作區，綠色為保留區，紅色為壞區。當紅色的壞扇區6還沒有加入Plist 或者Glist的時候，工作區的數字LAB 是由 0到29 ，第29之后就是保留區。

圖（1）

壞道 加入PLIST的情況

當壞道加入PLIST 之后，記錄地址在硬盤運行時候自動被跳過，硬盤不會再讀寫該扇區，所以該扇區的所有地址LAB值都發生了變化，第29區，會順延到保留扇區的一個扇區。由于所有的LAB都產生了變化，所以壞道被加入PLIST之后，是需要進行一次工廠的低格化。

圖（2）

圖（3）

壞道 加入GLIST的情況

當壞區加入到GLIST這后，硬盤需要讀到壞區所在的扇區，會被重新定位到保留區的一個扇區，硬盤區的其他扇區不會受到影響，LAB不會有變化。由于保留區是離工作區相對遠的區域，在內道，所以當磁頭讀取該扇區的數據時，需要移動較遠的距離，所以該LAB的讀取速度就會變慢，所以說加入GLIST之后，是會影響硬盤的讀寫速度。

下一節，我們來探討一下Glist表轉Plist的實戰示范。