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Modify MIPI TX & TPC event Timing for PVT Time mask test--MT6169
原資料介紹:
1. 調整Timing 的時候,請調到剛好的位置不用留太多margin,太接近boundary 有些CMW500 TX throughput會fail,ex: PA on time =9us 時time mask會fail,PA on time=8us Pass,那就用8us.
2. TDD band 可以先試著把ASM往boundary調。(page.7)
3. PA on的Timing 應該要在TPC之前! (Page.6)
4.因CMW500解調能力較差,請務必試過CMW500 的TX throughput.
5. BPI 的Timing 請依照PT1 => PT2 => TPC (4us) 的時間順序。
資料包括以下內容:
http://bbs.16rd.com/thread-460163-1-1.html
Step 1: 確認PA on event 是否在最低檔位
Step 2: 依照FDD/TDD band 調整event timing
Step 3: Check
Other questions
4.Other questions
1)目前Fail都是在Before off的地方,那么為什么將TX的時間設置為提前打開呢?
---在LTE spec中定義的time mask for PUSCH/PUCCH,ramping時間其實是壓到TX data的前面20 us,如果我們完全依據spec設定,TX data就會在每次開window時遭到suffer,導致UL throughput變差(某些解調能力較差的儀器就是會
因為第一個TX symbol的data遭到suffer,就解不出來而導致test fail),可以通過觀察Tx 的第一個symbol EVM是否變差來排查 ,所以目前的做法都是在不被儀器檢測出違反time mask的前提下,盡早將組件提早開啟。
2)哪些參數都可以改善General on/off指標呢?
---PA ON、 TPC ON 及開關的打開時間對于time mask都會有影響,由于不同的PA、matching的不同及走線不同,時間上稍微有差異性,后期可能要依據不同的手機tuning組件的開啟時間,目前關于MIPI PA時間及BPI的邏輯狀態修改已經在Nvram中開放,后續會進一步開放BPI的時序參數。
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